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本文標(biāo)題:認(rèn)識(shí)偏光顯微鏡進(jìn)行檢測(cè)中是如何利用偏光鏡檢術(shù)方法
信息分類:站內(nèi)新聞 新聞來(lái)源：未知 發(fā)布時(shí)間：2015-12-7 9:56:16
認(rèn)識(shí)偏光顯微鏡進(jìn)行檢測(cè)中是如何利用偏光鏡檢術(shù)方法
通常情況下，利用偏光鏡進(jìn)行檢術(shù)的方法有兩種，其使
用的參數(shù)和規(guī)格是不同的，而且其效果也是不同的，
第一種，正象鏡的檢測(cè)
這是一種沒(méi)有畸變的鏡檢，不會(huì)使用到特殊的伯特蘭式的
透鏡，而是用低倍的物鏡進(jìn)行觀測(cè)，這樣可以將照明的數(shù)值
孔徑變小，不過(guò)是需要將聚光鏡中的上透鏡推開(kāi)的，
第二種，錐光鏡的檢測(cè)
這種檢測(cè)是屬于干涉象的鏡檢，需要用到高倍物鏡，通過(guò)
檢測(cè)的物體來(lái)產(chǎn)生干涉的現(xiàn)象，使用的也是伯特蘭式的透鏡，
不過(guò)在其后焦點(diǎn)上的成像是那種干涉的象，而且像是可以放
大，也將數(shù)值孔徑的值增大了。
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