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本文標(biāo)題:硅氧烷涂層和在紙中涂覆樣品檢測(cè)顯微鏡

信息分類:行業(yè)動(dòng)態(tài)　新聞來(lái)源：未知發(fā)布時(shí)間：2017-10-3 23:31:36

硅氧烷涂層和在紙中涂覆樣品檢測(cè)顯微鏡

為了確保達(dá)到最佳激發(fā)，如果用途不同寸，采用不同的放射性

同位素很有必要。對(duì)硅氧烷涂層和在紙中的二氧化鈦，采用鐵—55

(Fe—55)源-因?yàn)殍F—55的X射線比較柔和(低能量)，不會(huì)在試樣中

穿越很遠(yuǎn)。而對(duì)于在膜上的銀，則采用能量更高的镅—241源。

將試樣放置在距離輻射源僅幾毫米處，以達(dá)到比較高的靈敏度

。試樣距激發(fā)源越近，對(duì)試樣的輻射越有效。低能X射線(如硅元素

的X射線)很容易被環(huán)境吸收，應(yīng)當(dāng)進(jìn)行氦凈化。必要時(shí)，選擇最佳

輻射和氦凈化，大多數(shù)試樣的計(jì)量時(shí)間一般在2nfin之內(nèi)。

可以將不同元素和材料的校準(zhǔn)曲線直接存儲(chǔ)在儀器中以備調(diào)用

。校準(zhǔn)曲線是通過(guò)測(cè)試一套已知試樣或同一材料的標(biāo)準(zhǔn)試樣建立起

來(lái)的，因?yàn)閄FR是一項(xiàng)比較技術(shù)，所以，后續(xù)的分析工作與所使用

的校準(zhǔn)曲線的精確度有關(guān)：

整體累積強(qiáng)度實(shí)際上是被分析元素和背景材料信號(hào)的合并，背

景強(qiáng)度可以隨著材料的厚度或基礎(chǔ)質(zhì)量變化。可以通過(guò)測(cè)試未涂覆

或空白試樣測(cè)定其中的差別，測(cè)定結(jié)果將自動(dòng)合并到校準(zhǔn)曲線。